探針pogo pin
適用于BGA, LGA, QFN, DFN 等各種IC類封裝
用于芯片的快速驗證、測試
適用于機測：轉塔式分選機、平移式分選機、燒錄機
pogo pin 測試壽命：＞220K次，OS測試壽命＞1300K次
pogo pin 適用于大間距芯片
pogo pin 適用于小間距芯片，間隙＞0.22mm
支持定制各類異性pogo pin
適用于BGA, LGA, QFN, DFN 等各種IC類封裝
用于芯片的快速驗證、測試
適用于機測：轉塔式分選機、平移式分選機、燒錄機
pogo pin 測試壽命：＞220K次，OS測試壽命＞1300K次
pogo pin 適用于大間距芯片
pogo pin 適用于小間距芯片，間隙＞0.22mm
支持定制各類異性pogo pin
適用于BGA, LGA, QFN, DFN 等各種IC類封裝
用于芯片的快速驗證、測試
適用于機測：轉塔式分選機、平移式分選機、燒錄機
pogo pin 測試壽命：＞220K次，OS測試壽命＞1300K次
pogo pin 適用于大間距芯片
pogo pin 適用于小間距芯片，間隙＞0.22mm
支持定制各類異性pogo pin
